Mattea Mačkić Jovanović boravila je u razdoblju od 24. svibnja do 19. lipnja 2026. godine na Instituto de Nanociencia y Materiales de Aragón te u Laboratorio de Microscopías Avanzadas kao gostujuća istraživačica s ciljem stručnog usavršavanja u području rendgenske difrakcijske analize (XRD), mikroskopije atomske sile (AFM), pripreme uzoraka na FIB/SEM sustavu (izrada TEM lamela) te rada na transmisijskom elektronskom mikroskopu (TEM).
Tijekom boravka stekla je nova teorijska znanja i praktična iskustva vezana uz navedene eksperimentalne metode. Istraživački rad uključivao je karakterizaciju uzoraka SnO₂ tankih filmova sintetiziranih metodom depozicije atomskih slojeva (ALD) na Fakultetu za fiziku u Rijeci navedenim tehnikama.
Ova stručna mobilnost omogućila je proširenje njezinih znanstvenih kompetencija, usvajanje novih eksperimentalnih pristupa te jačanje međunarodne istraživačke suradnje. Stečena znanja i vještine predstavljat će značajan doprinos njezinom daljnjem znanstveno-istraživačkom radu, izradi doktorske disertacije i profesionalnom razvoju.
