Dr. sc. Martina Kocijan i Virna Kisiček Flego boravile su od 19. do 26. svibnja 2025. kao gostujuće istraživačice na Institutu za metalne materijale i tehnologije (IMT) u Ljubljani, Slovenija radi stručnog usavršavanja na pripremi uzoraka, FIB/SEM i TEM mikroskopima. Tijekom osmodnevnog boravka na obuci usvojile su teorijsko znanje i praktičan rad koji su obavile na različitim uzorcima pripremljenih pomoću JEOL Cross Section Polisher-a i FIB tehnike na mikroskopu Crossbeam FIB-SEM Gemini II, opremljenom sustavom za EDAX EDS detekciju i kamerom za EBSD snimanje. U sklopu praktičnog rada na FIB/SEM-u pripremljeni su uzorci sintetizirani na ALD uređaju u Rijeci, TiO2 tanki filmovi i analizirani mikroskopom TEM/STEM EDS Thermo Fisher Scientific Talos F200i. Također, demonstriran je princip rada SEM mikroskopa Thermo Fisher Scientific Apreo 2S, s mogućnostima EDS i EBSD analize.
OPREMA
