Ivna Kavre Piltaver je sudjelovala na radionici Advancing Imaging & Analysis in Battery Materials and Semiconductor Research, koja se održala 11. i 12. ožujka 2026. u Wiesbadenu (Njemačka), u organizaciji tvrtke Oxford Instruments.
Radionica je bila usmjerena na primjenu naprednih metoda karakterizacije u istraživanju baterijskih materijala i poluvodiča. Program radionice uključivao je stručna predavanja i demonstracije rada analitičkih sustava, s posebnim naglaskom na suvremene tehnike mikroskopije i spektroskopije.
Tijekom radionice predstavljene su mogućnosti elektronske mikroskopije uz rendgensku analizu (X-ray analysis), atomske mikroskopije sila (AFM), Ramanovog oslikavanja i spektroskopije te NMR spektroskopije. Sudionici su imali priliku upoznati se s primjenom ovih metoda u analizi strukture, sastava i morfologije materijala važnih za razvoj naprednih baterijskih sustava i poluvodičkih tehnologija.
Sudjelovanje na radionici omogućilo je stjecanje novih znanja o suvremenim analitičkim tehnikama te razmjenu iskustava s istraživačima i stručnjacima iz područja znanosti o materijalima.
